实验室级SiC/GaN 功率器件动态测试服务

       西安长禾半导体技术有限公司功率器件测试实验室(简称长禾实验室)位于西安市高新技术经济开发区，是一家专业从事功率半导体器件测试服务的高新技术企业，是国家CNAS 认可实验室，属于国家大功率器件测试服务中心。

长禾实验室拥有尖端的系统设备、专业的技术团队和完善的服务体系。实验室现有的测试仪器设备100余台套，专业测试人员20余名。我们紧跟国际国内标准，以客户需求为导向，不断创新服务项目和检测技术，借助便利的服务网络，为合作伙伴提供优质高效的技术服务。

长禾实验室专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位、军工院所、工业控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是第三代半导体（宽禁带半导体）应用解决方案服务商。

长禾实验室秉承创新务实的经营理念，为客户提供优质的服务、完善的解决方案及全方位的技术支持；同时注重与行业企业、高校和科研院所的合作与交流，测试技术与服务水平不断提升。

诚信立世，感恩回馈，欢迎选择长禾实验室做您忠诚的合作伙伴，共谋发展大计！

晶闸管	1	门极触发电流	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4221.1	只测： 100nA～500mA
	2	门极触发电压	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4221.1	只测： 5mV～5V
	3	维持电流	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4201.2	只测： 10µA～1.5A
	4	擎住电流	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4201.2	只测： 10µA～1.5A
	5	浪涌电流	半导体测试方法测试标准 JB/T 7626-2013	只测： ITSM：0A～9000A
	6	正向漏电流	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4206.1	只测： 1nA～100mA
	7	反向漏电流	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4211.1	只测： 1nA～100mA
	8	正向导通压降	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4226.1	只测： IT：0～6000A
	9	稳态热阻	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3181	只测： Ph：0.1W～250W

实验室级SiC/GaN 功率器件动态测试服务
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